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葉面積指數是果樹冠層生物學特征的一個重要參數
發布時間： 2021-06-24 點擊次數： 1824次冠層分析儀又叫葉面積指數儀，顧名思義是測定植物冠層結構的儀器。它是根據光線穿過介質減弱的比爾定律，測算植物冠層的太陽直射光透過率、葉面積指數等，采用半理論半經驗的公式，通過冠層孔隙率的測定，計算出冠層結構參數。冠層分析儀可用于農作物、果樹、森林內冠層受光狀況的測量和分析;可對農田作物群體生長過程進行動態監測;也適用于農業、園藝、林業領域有關栽培、育種、植物群體對比與發展的研究與教學。冠層分析儀可測算植物冠層的太陽直射光透過率、天空散射光透過率、冠層的消光系數，葉面積指數和葉片平均傾角等，可用于農作物、果樹、森林內冠層受光狀況的測量和分析可用于不同植物群體結構的比較;可對農田作物群體生長過程進行動態監測適用于生態學野外植物群體動態監測的研究與教學;也適用于農業、園藝、林業領域有關栽培、育種、植物群體對比與發展的研究與教學。冠層分析儀廣泛應用于農業生產和農業科研，為進行冠層光能資源調查，測量植物冠層中光線的攔截，研究作物的生長發育、產量品質與光能利用間的關系。葉面積指數是果樹冠層生物學特征的一個重要參數，它可以影響果園的產量、品質以及光能的截獲，在一定程度上決定了果園的生產效率。測量葉面積指數的方法有直接測量法和間接測量法，直接測量法具有破壞性，且費時費力、不能重復，操作困難難以測量葉面積的動態變化等。間接測量法分為相對生長法和光學法，應用比較廣泛。